현재 우리나라의 석면분석방법으로 크게 2가지로 나눠서 진행되고 있다.
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환경부가 정한 고시에는 공기시료분석으로 위상차현미경(PCM)과 주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM)을 공정시험법으로 인정하고 있다.
또 하나는 고형시료(토양포함)분석으로 편광현미경(PLM)과 투과전자현미경(TEM)이 공정시험법이 정부로부터 인정받고 있다.
이와 같은 분석방법 중 광학현미경인 위상차현미경(PCM)은 석면과 비석면을 구분을 할 수 없고 유사한 성상의 다른 물질을 석면으로 분석할 수 있는 차이를 보여, 편광현미경(PLM)은 분석에 필요한 광학적 성질을 모두 육안으로 확인하므로 석면의 동정 시 오류가 발생할 가능성이 크다.
솔직히 밝히면 분석자의 경험과 능력이 크게 요구되는 분석기술이여서 정확한 분석에 어려움이 따른다.
그러면 정확한 분석을 할 수 없는 분석방법을 채택한 이유가 있을 것이다. 그 이유는 고가의 전자현미경을 규정에 의한 석면시료를 분석할 수 있을 만큼의 수요를 충족하지 못하기 때문이다.
즉, 석면을 취급하는 업계(석면해체철거업체나, 공공기관, 연구기관 등)에서 분석에 대한 필요성이 한계성도 무시할 수 없는 점도 있다.
그래서 보완책으로 공기시료는 위상차현미경으로 판독이 불가할 경우 전자현미경(SEM, TEM)으로 분석해야 한다고 규정하고 있다.
다행스러운 것은 전자현미경은 고배율(최고배율50만~100만배)과 X(엑스)-선 microanalsis장치(energydispersive X-ray spectrometer, EDX)를 장착하면 석면의 화학적 조성을 알 수 있어 정확한 석면분석이 가능하다.
그런데 고형시료의 분석에는 보완책으로 투과전자현미경(TEM)이 인정되고 주사전자현미경(SEM)은 인정되지 않고 있다.
물론 투과전자현미경(TEM)을 이용한 분석이 발생할 수 있는 오류를 극복하는 더 정확한 방법이다.
현재 우리 보다 앞선 기술을 가지고 있는 독일을 비롯한 유럽의 여러 국가에서는 주사전자현미경(SEM)을 VDI3866공정시험법에서 정한 방법으로 석면고형시료를 분석하고 인정하고 있다. 우리나라에서도 한번 고려해야 할 부분이다.
주사전자현미경은 높은 에너지의 전자빔을 이용해 물체로 방출되는 여러 형태의 전자 중 2차 전자만을 선택적으로 검출한 후 이미지화해 물체의 표면 특성을 분석하는 장비로 광학현미경의 한계를 극복하기 위해 가시광선 대신 파장이 짧은 전자를 이용하는 분석방법으로 투과전자현미경(TEM) 못지않은 정확한 분석방법이다.
전자현미경이 고가라고 언급 했듯이 두 종류의 전자현미경이 가격이 비싸기는 하나 투과전자현미경(TEM)이 주사전자현미경(SEM)에 비해 10배가량 더 높은 고가이기에 우리나라에 많이 보급돼 있지 않고 이에 비해 주사전자현미경(SEM)은 반도체공정 및 나노산업공정에서 많이 쓰이고 있어 보급률도 높아 가격 면에서도 점점 낮아지고 있어 사용이 용이하다는 장점이 있다.
공공건축물석면조사가 종료돼 양(量)적인 석면분석은 끝나고 질(質)적인 석면분석으로 분석방법이 바꿔야 석면대책수립 및 석면으로 인한 시시비비(是是非非)도 명확할 것이다.
향후 정확한 분석이 담보돼 있는 전자현미경으로만 석면분석방법이 적용돼야 석면분석의 품질을 높일 수 있을 것이다.
석면은 우리 실생활에 가장 가까운 곳에 늘 존재할 수 있다. 아직도 제대로 석면함유 분석 여부에 소홀하는 곳도 있을 수 있다.
석면으로부터 안전한 생활을 누리기 위해서는 보다 체계적이며 정확한 데이터분석으로 근거로, 완벽한 석면을 영원히 격리시키는 것이 무엇보다 중요하다.
(주)ISAA환경컨설팅 조영우 대표이사
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